產品介紹
u A-30MR金相顯微鏡能提供優越的圖像質量和穩固可靠的機械結構;
u 操作簡便,附件齊全,廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域;
u 光學系統:無限遠色差校正光學系統(CSIS),像質更好,分辨率更高,觀察更舒適;
u 目鏡及物鏡:高眼點、超寬視野平場目鏡,PL10x/22mm,提供更加寬闊平坦的觀察空間并可加裝用于測量的各類測微尺,無限遠平場消色差超長工作距專業金相物鏡,無蓋玻片設計;
u 觀察筒:鉸鏈式雙目/三目/數碼一體化觀察筒,視度可調節,30°傾斜,可進行攝影攝像,對觀察圖像進行采集和保存,配置電腦和專業軟件實現圖像分析;
u 調焦機構:低手位粗微調同軸調焦機構,粗調行程28mm,微調精度0.002mm,帶有平臺位置上下調節機構,樣品高度可達50mm(反射),帶有粗調松緊調節裝置和隨機限位裝置;
u 照明系統:反射照明器帶斜照明裝置,可以再觀察細微組織結構時產生浮雕立體的特殊觀察效果,自適應90V-240V寬電壓,單顆3WLED高亮度冷光源。
技術參數
產品名稱
及型號
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A-30MR正置金相顯微鏡
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部件配置
及規格
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部件型號
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規格描述
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數量
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PL10X22
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高眼點大視野平場目鏡
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1對
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XYMTH30R
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無限遠鉸鏈三通觀察筒,30°傾斜,瞳距調節范圍:54mm~75mm
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1套
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OLIP5NC
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無限遠長工作距平場消色差金相物鏡5XLMPL5X/0.15 WD10.8mm
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1只
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OLIP10NC
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無限遠長工作距平場消色差金相物鏡10XLMPL10X/0.3 WD10mm
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1只
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OLIP20NC
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無限遠長工作距平場消色差金相物鏡20XLMPL20X/0.45 WD4mm
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1只
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OLIP50NC
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無限遠長工作距平場半復消金相物鏡50XLMPLFL50X/0.55 WD7.8mm
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1只
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OLIP100NC
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無限遠長工作距平場半復消金相物鏡100XLMPLFL100X/0.80 WD2.1mm(可另配)
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不帶
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XY-NPI5
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內定位5孔轉換器
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1只
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XYMF
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反射式機架,低手位粗微同軸調焦機構。粗調行程28mm,帶平臺位置上下調節機構。樶大樣品高度50mm,微調精度0.002mm。帶有防止下滑的調節松緊裝置和隨機上限位裝置。
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1套
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XYMRL
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反(落)射照明器,柯拉照明系統,帶視場光闌與孔徑光闌,中心可調。帶斜照明裝置。
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1套
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XYMLED
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100-240V寬電壓,單顆大功率5W LED,暖色
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1只
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XYMSGM
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雙層機械移動平臺,低手位X、Y方向同軸調節;
平臺面積175mm×145mm,移動范圍:76mm×42mm。
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1套
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XYM-MSP
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反射用金屬載物臺板
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1塊
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MXPS
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φ30起偏鏡插板(反射用)
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1只
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MXPWSR
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360度旋轉式檢偏鏡插板
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1只
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XYCTV0.5
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1/2CTV(0.5X),C接口,可調焦
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1只
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倍率
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50X、100X、200X、500X、可調(標準配置10X目鏡)
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光源
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反射照明系統(LED燈),亮度可調
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選配件
A.目鏡和物鏡:各種放大倍率
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B.金相圖像分析測量軟件(基本型)
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C. 金相自動評級軟件(專業型)
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D.電腦及打印機
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